發(fā)布時(shí)間：2025/11/3 新聞來源：唯賽環(huán)保 瀏覽次數(shù)：
EDI模塊水質(zhì)下降的核心原因可歸為膜污染/堵塞、樹脂性能衰退、操作參數(shù)異常三大類，具體如下：
1.膜污染與堵塞（最常見）
膠體/顆粒物污染：進(jìn)水預(yù)處理不達(dá)標(biāo)，膠體（如硅、鐵）、懸浮物附著在離子交換膜表面，堵塞淡水室流道，降低離子遷移效率。
結(jié)垢：進(jìn)水硬度（鈣、鎂）或濃水側(cè)回收率過高，導(dǎo)致碳酸鈣、硫酸鈣等沉淀在濃水室膜表面，阻礙離子交換。
有機(jī)物污染：進(jìn)水中的腐殖酸、油脂等有機(jī)物吸附在樹脂或膜上，占據(jù)交換位點(diǎn)，降低樹脂吸附能力。
2.樹脂性能衰退
樹脂中毒：進(jìn)水含重金屬（鐵、銅、鉛）、氧化劑（余氯＞0.1ppm）或有機(jī)物，導(dǎo)致樹脂活性基團(tuán)被破壞，無法正常交換離子。
樹脂老化/破碎：長期運(yùn)行中，樹脂受水流沖擊、溫度波動(dòng)或化學(xué)清洗不當(dāng)影響，出現(xiàn)破碎、流失，交換容量下降。
3.操作與設(shè)備參數(shù)異常
進(jìn)水水質(zhì)超標(biāo)：進(jìn)水TDS、硬度、硅含量過高，超出模塊處理負(fù)荷，導(dǎo)致產(chǎn)水電阻率下降。
運(yùn)行參數(shù)偏離：
濃水流量過低：濃水室離子濃度過高，易結(jié)垢且離子遷移阻力增大。
電壓/電流異常：電壓不足導(dǎo)致離子無法有效遷移；電流過高引發(fā)“極化”，產(chǎn)生水垢或分解水（生成H?、O?）。
設(shè)備故障：
淡水/濃水/極水閥門泄漏，導(dǎo)致不同水質(zhì)水體混合，污染產(chǎn)水。
模塊密封件老化，出現(xiàn)內(nèi)漏，濃水滲入淡水室。
